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제목
[LG X DACON] 시스템 품질 변화로 인한 사용자 불편 예지 AI 경진대회
[LG X DACON] 시스템 품질 변화로 인한 사용자 불편 예지 AI 경진대회
공모주제
주제: 비식별화 된 시스템 기록(로그 및 수치 데이터)을 분석하여 시스템 품질 변화로 사용자에게 불편을 야기하는 요인을 진단
배경: 다양한 장비/서비스에서 일어나는 시스템 데이터를 통해 사용자의 불편을 예지하기 위해 ‘시스템 데이터’와 ‘사용자 불편 발생 데이터’를 분석하여 불편을 느낀 사용자와 불편 요인들을 찾아주세요.
목적: 데이터를 통해 사용자가 불편을 느끼는 원인 분석
사용자 관점의 데이터 분석 능력이 뛰어난 인재 발굴
주최 : LG AI Research
주관 : 데이콘
주제: 비식별화 된 시스템 기록(로그 및 수치 데이터)을 분석하여 시스템 품질 변화로 사용자에게 불편을 야기하는 요인을 진단
배경: 다양한 장비/서비스에서 일어나는 시스템 데이터를 통해 사용자의 불편을 예지하기 위해 ‘시스템 데이터’와 ‘사용자 불편 발생 데이터’를 분석하여 불편을 느낀 사용자와 불편 요인들을 찾아주세요.
목적: 데이터를 통해 사용자가 불편을 느끼는 원인 분석
사용자 관점의 데이터 분석 능력이 뛰어난 인재 발굴
주최 : LG AI Research
주관 : 데이콘
지원서접수
접수기간
01월 06일 09:00 ~ 02월 03일 18:00
01월 06일 09:00 ~ 02월 03일 18:00

* 마감일은 기업의 사정으로 인해 조기 마감 또는 변경될 수 있습니다